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2 インチの多結晶ダイヤモンド基板上での GaN-HEMT の製造の成功は、コア通信機器の容量を増加し、消費電力を削減するのに役立ちます。

2026,05,12
近年、無線通信で送信されるデータ量の増大に伴い、より高周波・高出力なデバイス、すなわちGaN-HEMTのニーズが高まっています。ただし、動作中の自己発熱によりデバイスの出力が制限され、信号送信の失敗など、通信パフォーマンスと信頼性の低下につながります。これらの課題に対し、大阪工業大学は熱伝導率が極めて高いダイヤモンドをGaN-HEMTの基板として活用し、放熱特性の向上に成功しました。

GaN-HEMTの基板にはSi(シリコン)やSiC(炭化ケイ素)がよく使われますが、ダイヤモンドはSiの約12倍、SiCの約4~6倍の熱伝導率を持ち、熱抵抗をそれぞれ1/4、1/2に低減します。

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これまで、多結晶ダイヤモンドの粒径が大きく、表面粗さ(5 ~ 6 nm)が大きいため、はんだや接着剤を使用せずに GaN 層を直接接合することは困難でした。しかし、表面粗さを従来の半分にまで低減するダイヤモンド基板研磨技術と、Si基板からGaN層を多結晶ダイヤモンドに転写する技術を組み合わせることで、2インチの多結晶ダイヤモンドにGaN層を直接接合することに成功しました。

これは、多結晶ダイヤモンド上の GaN 構造の実現可能性とその熱放散特性の均一性を示しています。

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著者:

Mr. John

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++86 16697772169

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